M2 AOI

M2 提供高速微电子器件检测，具有出色的缺陷覆盖率。M2 的分辨率低至亚微米级和远心光学元件，可在不到 1 平方米的占地面积内提供完整的检测。

微电子的自动光学检测

• 百万像素彩色成像

• 高倍率俯视观察相机

• 快速设置

• 高速

• 高缺陷覆盖率

• 低误报率

Nordson YESTECH 先进的百万像素技术提供高速设备检测和出色的缺陷覆盖率。凭借高分辨率和远心光学元件，M2 可在不到 1 平方米的占地面积内检测键合线、芯片放置、SMT 组件和基板。M2 可以与您的焊线机联机或离线以支持多个粘合剂。弹匣装载器/卸载器可用于离线操作。

对 M2 进行编程既快速又直观。通过 CAD 数据输入，一个完整的配方可在 1 小时内完成*。离线编程选项允许工程师在任何远程位置创建完整的配方，而不会影响生产。

M2 利用多种图像处理算法来执行过去由操作员使用目镜显微镜手动执行的大量检查。实时颜色、归一化灰度相关性、图案匹配和二进制“斑点”分析只是用于自动化的一些工具过程。

Nordson YESTECH 的 M2 还为您提供 SPC 数据、缺陷报告、离线缺陷分类、离线返工功能，甚至您检查的每个设备的存档图像。此外，Nordson YESTECH 还提供系统终身免费软件升级。