优势:

• 　　Nordson DAGE开放、透射式X光管

• 　　特征分辨率<0.95μm

• 　　在最高160KV管电压， 3W标靶功率时仍可达到次微米级特征分辨率。

• 　　使用Nordson DAGE 133万像素，10帧/秒的CMOS 平板探测器， 可实现实时模式影像增强功能，且使用寿命长。

• 　　2000倍几何放大倍率，7500倍系统放大倍率

• 　　最大样品尺寸：29”x 22.8”(736 x 580 mm)

• 　　保持放大倍率不变的情况下最大可达到65度倾斜角

• 　　24”TFT LCD 显示器

• 　　自动检测功能不需具备任何编程技巧

• 　　高清晰实时影像

• 　　微CT选项

　　Nordson DAGE, 是唯一一家专门专注于X射线电子检测的公司，提供NordsonDAGE XD7500VR Jade FP X射线检测系统，该系统使用最新平板探测器技术，可提供市场主导型，高效的清晰实时影像的产品检测。高规格的系统配置，比同类竞争者更为优越。Nordson DAGE开放、透射式X光管具有使用寿命长的灯丝技术，配备133万CMOS平板探测器，使得该系统在实时的高放大倍率，高解析度X影像技术领略具备最高性价比。X光管设计在底部，通过等中心线设计操作平台的移动和影像探测器的倾斜，所有的控制可通过软件简单的点击操作完成，不需要摇杆操作。如此可实现产品的安全无碰撞检测。所有的功能可以简单快捷进行自动检测，而不需要进行复杂的编程技术。

      参数:

　　• Nordson DAGE VR950新技术、开放、透射式X光管:

　　–所有电压均可达到<0.95微米特征分辨率

　　–最高电压160KV，标靶功率：3W

　　–灯丝组件使用寿命长

　　–自动稳压光管

　　• 2,000 倍光学放大倍率 (7,500 倍系统放大倍率)

　　• 简单，无碰撞，高放大倍率，高解析度检测系统：

　　–在倾斜角度下检测同样具备上述特点

　　–无摇杆，鼠标点击操作

　　• 最大样品检测尺寸：29”x 22.8”(736 x 580 毫米)，放大倍率

　　• 最大检尺寸：20”x 17.5”(508 x 444 毫米)

　　• 达65度倾斜角检测

　　–测试点360度环绕旋转检测

　　–等中心操作平台结构保证了可视范围内的影像分辨率。

　　• 使用寿命长的133万像素(1536*864像素比)CMOS数字探测器：

　　–10帧/秒的全息”实时”影像成像系统

　　–实时影像增强功能

　　• 16位数字影像处理系统

　　• 防震动控制处理

　　• 24”TFT LCD操作显示器

　　• Nordson DAGE X射线影像操作软件包含如下功能:

　　–自动或手动进行元器件失效分析，包括BGA和QFN

　　–简单快捷制作稳定的自动检测程序

　　–贯穿孔填充百分比计算

　　–精确的测量功能

　　–可自动或手动测量芯片内气泡比例

　　–专利的X影像导航图，方便定位缺陷位置

　　–使用简单，无需复杂的摇杆操作

　　• 外壳全封闭式铅屏蔽安全系统

　　–X射线辐射泄漏量<1μSv/hr

　　–符合所有的国际标准

　　–拥有辐射豁免

　　Windows10 64位操作系统

　　系统:

　　• 尺寸:57x67x77.5”(宽x长x高)

　　• 尺寸:1450x1700x1970mm(宽x长x高)

　　• 系统质量:1950千克(4300磅)

　　• 最大样品重量:5千克

　　• 电源:单相200–230伏,16安培

　　• 最大功率:1000瓦