半导体解决方案
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半导体解决方案
X射线检测设备
将图像转化为解决方案
Quadra™ 7 Pro 为后端半导体应用提供更高分辨率的 3D/2D 手动检查设立了新标准。配备革新的 Onyx® 检测器技术,可提供卓越的图像清晰度并降低噪声水平,通过最高水平的准确性和效率来提升检查体验。
Quadra 7 Pro 配备最新的双模 Quadra NT4® 管,为用户提供最大的灵活性。这一创新功能提供亮度和分辨率模式,允许操作员根据特定的应用要求在两种模式之间动态切换。
除了先进的硬件外,Quadra 7 Pro 还配备新开发的 Revalution™ 软件。Revalution™ 软件专为高端半导体应用而设计,通过直观的界面、优化的工作流程和扩展功能来增强用户体验。它使操作员能够有效地分析和解释检查数据,有助于更快地制定决策并提高整体生产力。

X射线检测设备

超声波扫描检测显微镜
新一代 C-SAM 技术。 最先进、功能齐全的 C-SAM 声学显微镜,适用于实验室分析和专业高分辨率应用。

超声波扫描检测显微镜

接触式焊接系统
真空接触式焊接,电力电子生产的完美选择
Nexus基于真空环境下的接触式加热功能,可以确保更高的焊接品质,提升生产效率,以满足先进封装和电力电子的生产要求。真空制程能够改善润湿性,避免焊点氧化,从而更好地填充焊点中的空隙,减少焊接空洞。该系统的标准焊接温度可高达400℃。

接触式焊接系统

键合光学检测设备
AOI M2 AOI
M2 提供高速微电子器件检测,具有出色的缺陷覆盖率。 凭借低至亚微级的分辨率和远心光学器件,M2 可提供完整的检测,所有检测都在占地面积不到 1 平方米的范围内。

键合光学检测设备

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